FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
Advantest ha annunciato la disponibilità di Pin Scale 5000B, una soluzione di test digitale avanzata per la sua piattaforma di collaudo dei semiconduttori V93000 EXA Scale, progettata per soddisfare i crescenti requisiti di test dei dispositivi avanzati per le applicazioni di intelligenza artificiale (AI) e di high-performance computing (HPC).
Le capacità e la complessità dei semiconduttori per AI e HPC stanno crescendo rapidamente, spinte da nodi di processo avanzati, integrazione eterogenea e architetture basate su chiplet. Tali dispositivi richiedono una copertura di test strutturale e funzionale significativamente più elevata, nonché l’elaborazione di volumi di dati di test in costante aumento.
Leggi tutto: Pin Scale 5000B amplia le capacità del tester per semiconduttori V93000 EXA Scale
Teradyne ha sviluppato Photon 100, un sistema completo di collaudo automatico ottico-elettrico progettato appositamente per accelerare la produzione ad alto volume di circuiti integrati fotonici in silicio (SiPh, Silicon Photonics) e dispositivi elettroottici integrati CPO (Co‑Packaged Optics).
Integrando nello stesso sistema la strumentazione ottica ed elettrica della piattaforma UltraFLEXplus di Teradyne, Photon 100 consente di effettuare test automatizzati ad alta velocità in tutte le principali fasi di produzione, verificando wafer, optical engine e modulo co-packaged.
Leggi tutto: Tester Photon 100 per chip fotonici e dispositivi elettro-ottici CPO
Teradyne ha annunciato il lancio di Omnyx, una piattaforma di test innovativa per il collaudo in produzione di schede elettroniche (PCBA) e sottoassiemi, progettata per rispondere alle specifiche esigenze dei sistemi elettronici utilizzati nelle applicazioni più avanzate dell’intelligenza artificiale e dei data center.
Teradyne Omnyx integra in un’unica piattaforma di collaudo automatico la capacità di effettuare test strutturali, parametrici, di interconnessione ad alta velocità e funzionali, affrontando le principali criticità produttive per ridurre i difetti non rilevati e migliorare la qualità degli assemblaggi elettronici più complessi.
Advantest ha annunciato del sistema di collaudo automatico di semiconduttori T2000 AiR2X, un tester raffreddato ad aria di nuova generazione progettato per soddisfare la crescente domanda di soluzioni compatte ed economiche in ambienti di valutazione e produzione ad alta varietà e basso volume.
La nuova soluzione è completamente compatibile con il sistema di test T2000 e offre il doppio delle risorse di misura rispetto al precedente sistema di collaudo raffreddato ad aria T2000 AiR, pur mantenendo bassi requisiti di alimentazione e raffreddamento.
Leggi tutto: Tester compatto Advantest T2000 AiR2X per dispositivi SoC e analogici di potenza
Pickering Interfaces ha annunciato un'estensione della sua gamma di moduli simulatori di batteria PXI: disponibili in un formato compatto a slot singolo, i modelli 41-754 (PXI) e 43-754 (PXIe) sono simulatori di batteria a 2 o 4 canali, in grado di fornire fino a 8 V e 5 A per canale.
I canali sono completamente isolati dalla terra e l'uno dall'altro, consentendo il collegamento in serie per simulare batterie in un'architettura con più pacchi impilati.
Leggi tutto: Modulo PXI/PXIe simulatore di batterie per il test dei BMS
