I moderni sistemi elettronici continuano a spingere i limiti delle prestazioni, dell’efficienza e dell’integrazione. Gli acceleratori per l'intelligenza artificiale elaborano enormi quantità di dati in tempo reale, l’elettronica automobilistica combina il calcolo ad alte prestazioni con sistemi di sensori sempre più complessi, i controllori industriali gestiscono sofisticati processi di automazione e le infrastrutture di comunicazione devono gestire in modo affidabile velocità di trasmissione dati in costante crescita.
Sebbene questi sviluppi siano spesso associati a processori più veloci, tecnologie avanzate dei semiconduttori e livelli più elevati di integrazione, un fattore altrettanto importante rimane in gran parte invisibile: la capacità di fornire un'alimentazione pulita, stabile e affidabile. Questo è il ruolo dell’integrità dell’alimentazione (PI, Power Integrity), una disciplina che si è evoluta da una considerazione secondaria in fase di progettazione a un requisito fondamentale in molti settori dell’elettronica moderna.
Alle più alte frequenze RF, la differenza tra una misurazione valida e un test fallito può dipendere da un leggero disallineamento durante l’accoppiamento dei connettori, da una coppia di serraggio errata o da una semplice incongruenza tra gli stessi. Per poter fare affidamento sui risultati dei di test, occorre innanzitutto eliminare l'effetto delle interconnessioni sull’incertezza di misura.
La spinta verso velocità di trasmissione dati sempre più elevate nel settore delle comunicazioni sta spingendo gli ambienti di test nel territorio delle onde millimetriche (mmWave), dove le tolleranze fisiche richiedono un nuovo livello di precisione. Man mano che le frequenze salgono fino a 110 GHz, le lunghezze d’onda si riducono a circa 2,7 millimetri, per cui anche i più piccoli difetti fisici nel connettore possono creare significative discontinuità di impedenza.
Leggi tutto: Test di integrità del segnale ad alta frequenza e connettori
L’oscilloscopio oggi non può più essere considerato un elemento neutro del sistema di misura. Il suo rumore di fondo è parte integrante della catena di acquisizione e può mascherare dettagli critici come jitter, ripple, crosstalk. Comprendere e gestire tale parametro è dunque essenziale.
Negli ultimi anni le specifiche di rumore degli oscilloscopi digitali (DSO) hanno assunto un ruolo sempre più centrale nella valutazione delle prestazioni di uno strumento. Questo interesse crescente non è casuale, ma è strettamente legato all’evoluzione dei sistemi elettronici moderni e dei contesti applicativi in cui essi operano.
Leggi tutto: Le specifiche di rumore negli oscilloscopi digitali
Nel 2025, l'organizzazione CAN in Automation (CiA) ha pubblicato le specifiche CAN FD Light, un protocollo semplificato pensato per realizzare sistemi elettronici integrati e sensibili ai costi.
Il nuovo protocollo semplifica la comunicazione preservando l'affidabilità tipica del bus CAN classico. Le specifiche del bus CAN FD Light sono ora incluse nello standard ISO 11898-1:2024.
Leggi tutto: Decodifica segnali CAN FD Light con l'oscilloscopio
Cosa fareste se voleste progettare un oscilloscopio all'avanguardia? Dovreste trovare il giusto equilibrio tra tecnologia avanzata di acquisizione del segnale, design incentrato sull'utente ed eccezionali capacità di elaborazione.
Per diversi anni, la larghezza di banda è stata il parametro determinante negli oscilloscopi di fascia alta e i principali produttori hanno investito per estenderla. Parallelamente alla larghezza di banda, spesso sono stati compiuti progressi per incrementare la frequenza di campionamento dei convertitori analogico-digitali (ADC). Tuttavia, frequenze di campionamento più elevate non sempre offrono miglioramenti significativi, o convenienti in termini di costi. Al contrario, possono aumentare le esigenze in termini di memoria, di generazione di calore e di complessità del sistema.
Quindi, quali sono allo stato attuale le caratteristiche chiave di un oscilloscopio che miri a spingere i confini dei test e delle misurazioni in termini di prestazioni e capacità?
Leggi tutto: La ricerca di una nuova frontiera negli oscilloscopi di ultima generazione
