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Misure su segnali con modulazioni analogicheKeysight Technologies ha aggiunto un applicativo software dedicato alla demodulazione dei segnali analogici e alla figura di rumore per il suo analizzatore di spettro e segnali UXA Serie X.

Grazie allo schermo multi-touch dello strumento, il software permette di interagire in modo molto semplice e rapido per impostare e registrare svariate misure sui segnali modulati nelle modalità più classiche o con parametri personalizzati.

Leggi tutto: Demodulazioni analogiche e figura di rumore per Keysight UXA

Registratore dati portatili Sefram DAS 50l sistemi di acquisizione e registrazione dati portatili Sefram DAS 30 e DAS 50 sono i due strumenti di  ultima generazione presentati dall'azienda francese.

Caratterizzati da grande robustezza, testimoniata dalla classificazione IEC 61010 CAT III a 600 V, hanno la possibilità di acquisire rispettivamente fino a 2 o 4 canali analogici, oltre a 16 canali digitali.

Leggi tutto: Registratori dati portatili Sefram DAS30 e DAS50

Test set Keysight EXMIl test set EXM di Keysight Technologies è stato potenziato con delle nuove funzionalità dedicate al collaudo di wireless LAN basate sui più recenti standard 802.11ah e 802.11af.

Si tratta dei due standard pensati per ampliare ulteriormente il campo d'azione delle reti wireless, con particolare attenzione alle applicazioni emergenti in ambito IoT (Internet-of-Things).

Leggi tutto: Collaudo WLAN 802.11ah e 802.11af con il test set Keysight EXM

Analizzatore di qualità dei segnali Anritsu MP1800AAnritsu ha presentato i nuovi moduli MP1861A MUX e MP1862A DEMUX per il suo analizzatore di qualità dei segnali MP1800A mediante i quali è possibile estendere le misure del tasso di errore sul bit (BER) fino a velocità di 64 Gb/s.

L'aumento della velocità consente di misurare anche i dispositivi per la trasmissione seriale ad elevata velocità di ultima generazione, come i più recenti SERDES (serializzatori-deserializzatori).

Leggi tutto: Misure Ber fino a 64 Gb/s con l'analizzatore Anritsu MP1800A

Tester per memorie Advantest T5833Advantest ha presentato il nuovo sistema automatico di collaudo per memorie T5833, una soluzione per effettuare i test sulle linee di produzione capace sia di verificare e selezionare i wafer, sia di effettuare i collaudi finali sui dispositivi di memoria DRAM e NAND flash.

Le memorie DRAM e NAND flash e i multi-chip package (MCP) stanno rapidamente evolvendo per supportare sia velocità più elevate, sia una maggiore capacità di memorizzazione. Il costo per collaudare l'ampia schiera di dispositivi di memoria oggi disponibili rappresenta un ostacolo per i produttori di chip, che necessitano urgentemente di soluzioni che possano offrire elevate funzionalità, ottime prestazioni e un basso costo di collaudo.

Leggi tutto: Sistema di collaudo per memorie Advantest T5833

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